| 
对涂层测试有一定影响的方面
1，基体金属的磁特性
磁测得的厚度由基体金属磁性变化（在实际应用中，低碳磁场变化可以被认为是次要的） ，为了避免热处理和冷加工因素，应该使用的试验片的基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准，也可以用于校准要被涂敷的试样。
2，基体金属的厚度
每台仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度测量不受基体金属的厚度。
3，基体金属的电特性
的导电性的基质金属对测量的影响，和的导电性母材和其材料的组合物和热处理的方法。使用试样基本金属相同性质的标准片对仪器进行校准。
4，边缘效应
敏感的突然变化对样品表面的形状上的仪器。因此，附近的试件的边缘或内眼角的测量是不可靠的。
5，曲率
测定试样的曲率影响。这种效应始终是明确的，以减少的曲率半径增加。因此，试件的弯曲表面测量是不可靠的。
6，变形的试样
探头软覆盖层导致变形试验，试件计量有关的可靠的数据。
7，表面粗糙度
基体金属和覆盖层的表面粗糙度对测量的影响。粗糙度的增加，增加的效果。粗糙的表面在不同的位置，可能会导致系统误差和随机误差，每次测量的测量次数增加应该是克服这种偶然误差。如果基体金属是粗糙的，还必须是类似的未涂覆的试验片的基体金属的粗糙度采取一些位置零点校正仪器;或基体金属的腐蚀，不溶解和去除的覆盖层是一个解决方案，并那么仪器校对零点。
8，磁场
周围环绕着各种电气设备产生的强磁场，可能会严重干扰的磁法测量厚度的工作。
9，连接到该物质
该仪器探头对于那些阻碍敏感的粘合材料的涂布层的表面紧密接触，因此，必须清除附着物质，以确保仪器的探头与被测面直接接触。
10，压力探针
将试样放置在探头上的压力施加可能影响测量的读数，因此，保持压力恒定。
11 ，探头的方向
探针的放置对测量的影响。在测量中，测量头应垂直于样品表面。
其次，使用该仪器须遵守的规定
1，基体金属性能
磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，试样应是类似的磁性基体金属和表面粗糙度。
对于涡流方法，标准膜的电性能的基体金属，应该是基本金属试样相似的电性能。
2，基体金属的厚度
检查基体金属厚度大于临界厚度，若否，方法可以被用来校准3.3 。
3，边缘效应
不应该在靠近检体的突变，如在孔的边缘和内眼角等进行测定。
4，曲率
应该测量的试样的弯曲表面上。
5，表面的清洁度
测量前，应清除表面附着的物质，如灰尘，油污和腐蚀产物等，但不删除任何覆盖层材料
磁测得的厚度由基体金属磁性变化（在实际应用中，低碳磁场变化可以被认为是次要的） ，为了避免热处理和冷加工因素，应该使用的试验片的基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准，也可以用于校准要被涂敷的试样。
6 ，读数的数量
通常是因为仪器的读数是不是每次都是一样的，所以你必须采取一切措施，区域内的几个读数。该覆盖层的厚度的局部变化，也需要在任何给定的区域内的多个测量，表面粗糙度更是这样。 |
